塞貝克系數(shù)測定儀的主要構成分析
點擊次數(shù)：1539 更新時間：2017-06-08
塞貝克系數(shù)測定儀可用于測量某些材料的塞貝克系數(shù)（熱電系數(shù)）；塞貝克系數(shù)測定儀是根據(jù)地質(zhì)、礦業(yè)、物探、半導體科研院所的需求而設計的新型自動化數(shù)字化熱電系數(shù)測量儀，用于測量具有類似半導體特性的各種礦物，如黃鐵礦等及一般半導體材料的熱電系數(shù)。在某些礦物和半導體材料的研究中測取熱電系數(shù)具有重要的用途和意義。
塞貝克系數(shù)測定儀適合于礦業(yè)、地質(zhì)、物探、半導體等有關科研院所和高等學校使用。適合于測量直徑在0.1~1.0mm之間的微小晶體的熱電系數(shù)和導型。
塞貝克系數(shù)測定儀主要由以下幾部分構成：
1、控制箱體：箱體由兩部分組成，上箱左側設有手動按鈕，箱內(nèi)安裝雙試件測定裝置，下箱安裝制冷系統(tǒng)，氣壓傳動控制系統(tǒng)。
2、微機控制系統(tǒng)：由高配置工業(yè)控制計算機、打印機組成。完成檢測信號采集、處理、溫控、時控計算、報表打印等功能。
3、雙試件測定裝置：由加熱單元和兩個冷單元組成。其中冷單元可根據(jù)試件的不同厚度由傳動系統(tǒng)自動調(diào)節(jié)空間位置。
4、制冷系統(tǒng)采用直冷式的制冷方式，冷卻側板。
塞貝克系數(shù)測定儀適合于礦業(yè)、地質(zhì)、物探、半導體等有關科研院所和高等學校使用。適合于測量直徑在0.1~1.0mm之間的微小晶體的熱電系數(shù)和導型。
塞貝克系數(shù)測定儀主要由以下幾部分構成：
1、控制箱體：箱體由兩部分組成，上箱左側設有手動按鈕，箱內(nèi)安裝雙試件測定裝置，下箱安裝制冷系統(tǒng)，氣壓傳動控制系統(tǒng)。
2、微機控制系統(tǒng)：由高配置工業(yè)控制計算機、打印機組成。完成檢測信號采集、處理、溫控、時控計算、報表打印等功能。
3、雙試件測定裝置：由加熱單元和兩個冷單元組成。其中冷單元可根據(jù)試件的不同厚度由傳動系統(tǒng)自動調(diào)節(jié)空間位置。
4、制冷系統(tǒng)采用直冷式的制冷方式，冷卻側板。